簡單介紹:
        
        
            SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,專用于測量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
        
    
            詳情介紹:
        
        SP-601型方形四探針探頭
SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭,專用于測量小樣品的四探針探頭,可用于一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
	SP-601型方形四探針探頭特性及規(guī)格:

1;特制之手握式探筆
2;球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷
3;探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4;探頭使用壽命長
5;探針間距:1.59mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
SP-601型方形四探針探頭
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					 型號  | 
			
				 
					 曲率半徑  | 
			
				 
					 壓力  | 
			
				 
					 探針間距  | 
			
				 
					 探針排列  | 
		
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				 SP-601  | 
			
				 0.5mm  | 
			
				 100g  | 
			
				 1.59mm  | 
			
				 方形  |